基于ARM的通信接口测试系统的开发
作者:网络转载 发布时间:[ 2013/6/20 13:41:42 ] 推荐标签:
2.2 RS232 接口
RS232 接口是DTE(数据终端设备)和DCE(数据通信设备)之间的一个接口,来源于串行通信的国际标准。数据收发分开,支持全双工。在短距离(<15m)较低波特率串行通信中得到广泛应用。信号线的电压均为负逻辑关系,不使用对方的传送控制信号时,仅需“发送数据”、“接收数据”和“信号地”三条接口线。
3、接口测试模块设计与实现
需开发的专用接口测试系统设计要求为:接口匹配待测节点接口硬件规范;对待测节点下达各种命令,接收并识别待测节点上传的数据。所谓识别命令和正确接收数据,即测试系统对收到的命令和数据具有协议解析能力;所谓下达命令和发送测试数据,即测试系统具有数据封装能力。测试系统还应该能正确保存部分接收数据供进一步分析。
为快速设计实现这一测试工具,我们提出一种由接口测试模块加上PC 机共同构成简便高效的专用接口测试系统的实现方法。此方法充分利用了PC机强大的计算能力和丰富的软件资源,可大大简化对测试模块的硬件要求。
我们选取支持上述接口的芯片搭建测试模块的电路,同时在软件上实现协议解析和转换。ARM微处理器集成度高,软件支持好。利用ARM 集成的强大片内外围接口电路,辅以必要的外围芯片,加上针对具体应用的软件,便形成一个简便高效的嵌入式系统,可快速实现专用接口测试所需的各项功能。
3.1 硬件设计实现
选用Samsung 公司的芯片S3C4510B,这是一款基于以太网应用的高性价比处理器,内含一个低功耗的16/32 位ARM7TDMI RISC 处理器核,支持2个UART 通道和1 个以太网MAC 控制器。由于以太网MAC 控制器,支持100M MII 和带缓冲的DMA 接口(Buffered DMA Interface, BDI),因此特别适合高速数据的通信。
构成接口测试模块的外围器件主要有:Flash存储器AM29LV160DB90EC 、SDRAM 芯片MT48LC4M32B2-7G、串口芯片MAX3232E。系统选择10 MHz 的有源晶体振荡器,其频率经过S3C4510B内部PLL电路倍频后,高可达50 MHz。图3 为接口测试模块示意图。
接口测试模块通过排线接口管脚与待测节点接口的管脚相互连接。由于接口测试模块只利用S3C4510B 的MII 接收数据,故排线与待测节点只连接8 根接收信号线。S3C4510B 有两个RS232 接口,其中一个用于与上位PC 机的通信,采用DB-9连接器;另一个用于与待测节点的命令交换,只使用RXD、TXD、GND 三根信号线。
3.2 数据转义与协议解析
命令通道采用UART 协议,字符格式为1 个起始位,8 个数据位,1 个停止位。传输时还采用了HDLC 封装。协议帧封装时,为了不把数据中出现的协议字符当成帧头或帧尾,确保帧的完整性,采用数据转义的办法。在接收时逐个检查数据内容,当遇到协议字符0x7E 时,连续传送2 个字符:0x7D和0x5E,以实现协议字符的转义;当遇到转义字符0x7D 时,连续传送2 个字符:0x7D 和0x5D,以实现转义字符的转义。
协议解析是要根据协议帧格式,去除帧封装时的帧头帧尾标志和填充的各种控制字符,将帧中所封装的数据信息部分按照测试的需要格式配置输出。
相关推荐
更新发布
功能测试和接口测试的区别
2023/3/23 14:23:39如何写好测试用例文档
2023/3/22 16:17:39常用的选择回归测试的方式有哪些?
2022/6/14 16:14:27测试流程中需要重点把关几个过程?
2021/10/18 15:37:44性能测试的七种方法
2021/9/17 15:19:29全链路压测优化思路
2021/9/14 15:42:25性能测试流程浅谈
2021/5/28 17:25:47常见的APP性能测试指标
2021/5/8 17:01:11