一.多次快速点击一处功能入口：
　　该测试方法可以在某些应用中打开俩次目标界面，举一些具体一点的例子：
　　1.比如现在很多APP需要登陆，如果打开了俩次登录页面，容易造成登录成功后应用跳转界面又是登录界面，第二次登录造成的后果未知，简单的后果是，用户会觉得该应用需要登录俩次，不宜用
　　2.输入用户名密码后俩次点击登录按钮，某些应用会打开俩次登录成功界面，这个时候如果需要设置手势密码，那么会做俩次设置操作，后果未知，因对应程序逻辑不同而导致后果不同
　　3.多次打开某一界面A后又多次打开该界面中某一元素对应的界面B，导致Android触发类似垃圾回收的机制，导致从B返回后A后A界面其他控件被销毁从而失效
　　二.网络应用在访问某项功能操作后快速退出该功能并再次操作：
　　该测试方法会导致快速多次访问某一接口，举个例子：
　　1.应用会获取接口中某些标志做某些操作，如果研发在应用中对空值未做防护，好了，多次调用会使传递参数为空的概率增大，这个操作可以多做，没坏处
　　三.点击一切有图片的地方：
　　这个涉及到研发的习惯，他们会在某一标识处添加本不该存在的调试入口，这个标识往往在需求说明书中是一个装饰品，但是在提测的产品中可能它是一个调试入口，作为测试人员，我们应该发现这一切
　　四.登录前做完一切操作，改变界面元素，颜色等等操作后登录
　　这个操作是为了保证登陆后刷布局的时候不会因为登录前的改变而冲突
　　五.锁屏
　　我们会知道断网，断电，强退等一系列异常操作，但是容易忽略的貌似以我来讲是锁屏，大胆的在每个界面锁屏吧，有手势密码的好能等到手势密码出现。会有意想不到的收获
　　六.手势密码解锁错误
　　看看异常退出后界面是否停留在登录才能进的界面
　　七.清除数据，Android专属技能
　　清除用户数据后，应用还活着吗